Double Crystal Spectrometer dan Ultra-Small-Angle Scattering: Teknologi Revolusioner dalam Analisis Struktur

Double Crystal Spectrometer dan Ultra-Small-Angle Scattering: Teknologi Revolusioner dalam Analisis Struktur

Pembahasan tentang desain dan pengukuran dengan spektrometer kristal ganda sederhana untuk mengukur penyebaran sinar-X di bawah 0.1 radian. Spektra X-ray specimen polistiren latex yang sangat uniform ukuran partikel menunjukkan arranging regular sphere.

Menurut metode Shull dan Roess, ukuran partikel 225 Å ditentukan untuk sampel oksida magnesium yang sesuai dengan nilai yang ditemukan melalui mikroskop elektron. Partikel karbon hitam dengan ukuran 1000 dan 3000 Å juga memberikan kurva penyebaran yang sesuai dengan ukuran yang jauh lebih kecil.

Bridging the Gap: Ultra-Small-Angle X-ray Scattering

Pembahasan tentang performa fasilitas ultra-small-angle X-ray scattering di beamline X23A3 pada National Synchrotron Light Source. Berdasarkan desain Kristal Ganda Bonse-Hart, instrumen ini menggabungkan: optika yang dapat diatur secara kontinu dengan kristal monokromator asimetris pertama, throughput flux tinggi, rotator kriyal yang akurat, kristal pelaku yang terpisah, detektor fotodiode dan kamera video X-ray yang tinggi-resolusi. Kombinasi fitur ini memungkinkan pengukuran penyebaran X-ray kecil-kecil dalam rentang wave-vector scattering 0.005–2.0 nm−1 (tergantung pada sampel), dengan akurasi posisi mikrometer untuk beam yang biasanya berukuran 3 × 3 mm2.

The Use of the Double Crystal Spectrometer in the Analysis

Pembahasan tentang penggunaan spektrometer kristal ganda dalam analisis struktur. Spektra X-ray specimen polistiren latex yang sangat uniform ukuran partikel menunjukkan arranging regular sphere. Metode Shull dan Roess digunakan untuk menentukan ukuran partikel, yang sesuai dengan nilai yang ditemukan melalui mikroskop elektron.

ULTRA-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING: Technical Report

Laporan teknis tentang perluasan teknik penyebaran kecil X-ray menjadi sudut-sudut beberapa aksen. Intensitas penyebaran dalam rentang ini sangat besar. Spektrometer Kristal Ganda dua-kristal baru diusulkan untuk pekerjaan ini. Dengan menggunakan sumber sinar-X yang tinggi-energi, kristal sempurna pada spektrometer untuk sudut-sudut ultra-small-angle atau kristal tidak sempurna untuk rentang angular konvensional, serta prosedur unfolding baru untuk memperbaiki efek instrumental residu, teknik penyebaran kecil X-ray akan diperluas menjadi tingkat yang lebih berguna dalam banyak masalah analisis struktur.

Konklusi

Dalam artikel ini, kita membahas tentang desain dan pengukuran dengan spektrometer kristal ganda sederhana, ultra-small-angle X-ray scattering, serta teknik penyebaran kecil X-ray yang baru. Instrumen-instrumen ini memungkinkan pengukuran struktur material yang lebih akurat dan dapat membantu meningkatkan pemahaman kita tentang materi dan proses-prosesnya.