Scanning Electron Microscope (SEM) adalah alat yang digunakan untuk mengamati struktur dan komposisi suatu sampel dengan tingkat detail yang sangat halus. Dalam artikel ini, kita akan membahas bagaimana SEM bekerja dan contoh-contoh hasil analisis yang dilakukan oleh Balai Konservasi Borobudur.
Bagaimana SEM Bekerja
Proses analisis SEM dimulai dengan menabrak elektron dari sampel oleh filament pada SEM. Elektron tersebut akan menabrak inti atom pada sampel, menghasilkan secondary electron dan backscattered electron. Secondary electron akan menampilkan kontur permukaan sampel, sedangkan backscattered electron akan menampilkan informasi nomer atom/massa atom dari sampel.
Tampilan Gambar SEM
Gambar yang dihasilkan oleh SEM adalah gambar hitam-putih, tidak berwarna seperti mikroskop optik. Warna yang terlihat pada suatu objek bergantung pada panjang gelombang cahaya yang memantul dari objek tersebut. Karena SEM tidak menggunakan cahaya sebagai media penampilnya, maka tidak terdapat informasi warna pada hasil gambarnya.
Contoh Hasil Analisis SEM di Balai Konservasi Borobudur
Balai Konservasi Borobudur memiliki satu buah SEM dengan merk Jeol JSM – T300. Alat ini masih beroperasi dengan baik dan dapat melihat objek dengan perbesaran efektif hingga 5.000 x.
Beberapa contoh hasil analisis SEM yang dilakukan oleh Balai Konservasi Borobudur adalah sebagai berikut:
- Menerima Analisis Sampel
Balai Konservasi Borobudur menerima analisis sampel baik itu dari masyarakat umum, instansi pemerintah, pelajar maupun mahasiswa. Tarif analisis SEM Berdasarkan Peraturan Pemerintah Nomor 82 Tahun 2016 terlihat pada tabel berikut.
Tabel 1. Tarif analisis SEM di Balai Konservasi Borobudur
| No | Asal Sampel | Tarif per Sampel |
|---|---|---|
| 1 | Masyarakat umum | Rp 350.000,- |
| 2 | Pelajar / mahasiswa hingga strata 1 | Rp 280.000,- |
| 3 | Mahasiswa strata 2 dan 3 | Rp 300.000,- |
Daftar Pustaka
Boldin, P. (2010). Electric Field Measurement Using Scanning Electron Microscope. Lappeenranta University of Technology.
Haliday, D., Resnick, R., & Walker, J. (2014). Fundamentals of Physics (Tenth Edit). John Wiley & Sons.
Myscope Microscopy Training. (2012, 9 Oktober). Magnetic lens system. Akses 27 Agustus 2020, dari https://myscope.training/legacy/tem/background/whatistem/lens.php
Nishimura, Masako, Ichikawa, Kaori, Ajima, Masahiko. 2016. “Features and applications of Hitachi tabletop microscope TM3030Plus”. https://www.hitachi-hightech.com/global/sinews/technical_explanation/07071/. 27 Agustus 2020.
Science Learning Hub. (2012, 29 Februari). Magnification and resolution. Akses 27 Agustus 2020, dari https://www.sciencelearn.org.nz/resources/495-magnification-and-resolution